如何根據(jù)具體選用選擇X熒光設備進行RoHS分析

來源：中國電子商情
作者：英國牛津儀器 John I.H. Patterson博士
主要內(nèi)容：X熒光技術（XRF）一直以來都是元素分析領域的一種常用技術。因此，當有關限制電子電器產(chǎn)品中的有害物質(zhì)的法令頒布后（例如歐盟和中國的RoHS指令），XRF自然也就成為了業(yè)界所認可的一種值得信賴的檢測手段。在絕大多數(shù)的相類似指令中，都限定材料中的鉛、汞、六價鉻，多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴聯(lián)苯醚（PBDE）的含量必須分別低于0.1%，鎘的含量必須低于0.01%。運用XRF技術能夠在直接分析物質(zhì)中的鉛、汞、鎘元素含量，并達到相關法令所要求的檢測精度；XRF技術可檢測鉻的總含量，但無法分辨其在不同原子價狀態(tài)下的各自含量；同樣，運用XRF技術可以檢測溴的總含量，但是無法判斷在不同種類的溴的化合物的分別含量。綜上所述，當被測樣品為均質(zhì)材料且樣品材料厚度滿足XRF測試要求的條件下，XRF的測試結(jié)果能夠?qū)S家控制和檢測物質(zhì)中的有害元素提供非常有價值的信息。目前標準組織ASTM下屬的ASTM F-40委員會一直在致力于制定相關的標準測試方法來規(guī)范相關材料中有害物質(zhì)的分析。下文中將提到的關于測試塑膠樣品中的有害物質(zhì)的測試方法已經(jīng)非常的接近于即將被批準和公布的測試方法了……
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